Elektronen Mikrosonden Analytik (EMPA)

Die Elektronenmikrosondenanalyse ist eine zerstörungsfreie volumenaufgelöste quantitative Analyse von Haupt-, Neben- und Spurenelement-Konzentrationen an polierten Festkörperoberflächen.

Die JEOL JXA-8200 Elektronenmikrosonde verfügt über 5 wellenlängendispersive Spektrometer (WDS) – jeweils mit mehreren Analysatorkristallen bestückt – für hochauflösende Elementanalytik, sowie über ein energiedispersives Röntgenspektrometer (EDXS) für eine schnelle semiquantitative Elementbestimmung. Dies erlaubt qualitative und quantitative Analysen der Elemente C bis U.

Verschiedene Detektoren (Sekundärelektronen-, Rückstreuelektronen- und Kathodolumineszenz-Detektor) können die Oberflächenmorphologie und Element-/Dichtekontraste bildlich darstellen.

Ausstattung:

• JEOL JXA-8200 Elektronenmikrosonde (W-Filament, bis 30 kV Anregungsspannung)
• EDXS-Detektor
• Kathodolumineszenz (KL) Detektor
• Sekundärelektronen (SEE) und Rückstreuelektronen (BSE) Detektor
• Probenhalter für bis zu 3 polierte Dünnschliffe (48 × 28 mm)
• Probenhalter für bis zu 6 polierte Anschliffe (1 Zoll im Durchmesser)
• Probenhalter für bis zu 2 Dünnschliffe (75 × 26 mm)
• Optisches Mikroskop für Auf- und Durchlicht
• Pointlogger zur Navigation